Эмисионный спектрометр ИСКРОН-2 |
Эмиссионный спектрометр "ИСКРОН-02" разработан специалистами компаний "Мониторинг" и "ИВС". Спектрометр "ИСКРОН-02" обеспечивает экспрессность анализа химического состава сплавов металлов при высокой точности и надежности результатов, минимальных сроках внедрения. Достигнутые технические характеристики позволяют поставить спектрометр "ИСКРОН-02" в ряд лучших современных образцов аналитических приборов данного назначения при сохранении доступной стоимости.
В эмиссионном спектрометре "ИСКРОН-02" реализованы следующий ряд технических решений, выгодно отличающий его от известных отечественных аналогов: - специально разработан искровой генератор, максимальная мощность и стабильность параметров разряда которого в несколько раз выше известных дуговых генераторов. Это расширяет номенклатуру исследуемых сплавов и позволяет определять концентрации большего числа химических элементов с более высокой чувствительностью и с меньшей величиной среднеквадратичного отклонения;
- применяемый вакуумный насос, производства Англии, обеспечивает разряжение до величины менее 0,01 мбар, что позволяет существенно увеличить сходимость и чувствительность при определении серы и фосфора, а также уменьшает расход аргона;
- применен алгоритм автоматической минимизации случайной погрешности измерения в рамках одного «пятна» обыскривания, что существенно увеличивает сходимость результатов анализа;
- в оптическом блоке реализована схема расположения линеек ПЗС матриц фотоприемника производства фирмы "TOSHIBA" (Япония), гарантирующая отсутствие «мертвых зон» в получаемом при анализе спектре;
- программное обеспечение позволяет осуществлять как ручной, так и автоматический выбор аналитических пар при анализе полученных результатов, а также проводить автоматическую корректировку калибровки непосредственно в процессе исследования, что дает возможность исключить «человеческий фактор» при анализе результатов;
- в конструкции прибора реализовано уникальное техническое решение, за счет которого достигается высокая температурная стабильность спектрометра без применения термостабилизации за счет принудительного нагрева.
Краткие технические характеристики: Оптическая схема: - два спектрографа на одном оптическом основании;
- спектральный диапазон: 170 – 915 нм (первый спектрограф 170-410 нм; второй спектрограф – 410 – 915 нм);
- схема Пашена-Рунге в обоих спектрографах;
- диаметры круга Роуланда: 500 мм и 400 мм;
- обратная дисперсия: 0,56 нм/мм и 1,7 нм/мм;
- дифракционные решетки: 3600 штр./мм и 1600 штр./мм;
- система 30 –ти многоэлементных ПЗС с общим количеством каналов более 90000 и размером канала около 8 мкм;
- автоматическое профилирование и учет дрейфа.
Вакуумная система: - форвакуумный насос с остаточным вакуумом не хуже 0,01 мбар;
- компьютерный контроль вакуума;
Система возбуждения спектра: - низковольтная униполярная искра в атмосфере аргона;
- компьютерный контроль частоты разрядов, напряжения и энергии импульсов;
- автоматическая смена параметров разряда при переходе от обыскривания к анализу;
- открытая конструкция столика;
- несменяемый вольфрамовый электрод;
- приспособления для анализа состава проволоки и прутков.
Система управления и обработки: - встроенный компьютер;
- операционная система Microsoft Windows 2000;
- выход на монитор и принтер;
- возможность подключения к локальной сети предприятия и Internet;
- перенос результатов измерений с помощью USB-drive.
Система регистрации на ПЗС - линейках и программное обеспечение: - 30 ПЗС – линеек фирмы Toshiba;
- совместимо с Microsoft Windows 98/2000/XP;
- графическое представление спектра;
- база данных спектральных линий для качественного анализа;
- автоматическое профилирование и учет дрейфа;
- контроль процесса обыскривания;
- индивидуальный учет спектрального фона для каждой линии;
- использование нескольких спектральных линий и линий сравнения для каждого элемента;
- уникальный алгоритм обработки результатов, основанный на использовании методов корреляционного анализа, для уменьшения случайных и систематических ошибок;
- автоматический учет межэлементных аддитивных и мультипликативных влияний;
- учет разбавления основы;
- одно- и двухточечная рекалибровка.
- автоматический выбор линии сравнения для заданной аналитической линии любого определяемого элемента.
Статья «Эмиссионный спектрометр ИСКРОН-02» |